美國(guó)TA Q2000
測(cè)試溫度范圍:-80 ~+400°C
動(dòng)態(tài)量程:0.2uw~800mw
靈敏度:0.2uw
等溫漂移:10min內(nèi),1000C漂移小于10uw
量熱計(jì)準(zhǔn)確度:優(yōu)于±1%
量熱計(jì)精度:優(yōu)于±1%
溫度精度:<±0.010C
掃描速率:±0.01°C/min~±300°C/min
可以檢測(cè)聚合物、有機(jī)物和無(wú)機(jī)物樣品在程序升溫過(guò)程中發(fā)生的能量變化。并以此測(cè)試樣品的熔點(diǎn)及熔融熱、結(jié)晶溫度及結(jié)晶熱、比熱等伴隨著能量變化的物理性能。
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