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材料分析檢測(cè)業(yè)務(wù)

日本理學(xué)SmartLab產(chǎn)品介紹

SmartLabX射線衍射儀,它采用了理學(xué)獨(dú)創(chuàng)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)、自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組件、樣品臺(tái)、智能的測(cè)量分析軟件SmartLab Guidance,一臺(tái)儀器可以智能進(jìn)行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導(dǎo)體、薄膜樣品測(cè)試。

 

技術(shù)參數(shù)

1、X射線發(fā)生器功率為3KW、新型9KW轉(zhuǎn)靶

2、測(cè)角儀為水平測(cè)角儀

3、測(cè)角儀最小步進(jìn)為1/10000度,最高精度測(cè)角儀(雙光學(xué)編碼、直接軸上定位)(理學(xué)專(zhuān)利)

4、測(cè)角儀配程序式可變狹縫

5、自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組件、樣品臺(tái)(理學(xué)專(zhuān)利)

6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路(帶Mirror)(理學(xué)專(zhuān)利)

7、小角散射測(cè)試組件(SAXS / Ultra SAXS)

8、多用途薄膜測(cè)試組件

9、微區(qū)測(cè)試組件、CBO-F微區(qū)光學(xué)組件

10、In-Plane測(cè)試組件(理學(xué)獨(dú)有)

11、入射端Ka1光學(xué)組件

12、高速探測(cè)器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)

13、二維面探PILATUS 100K/R(用于同步輻射環(huán)的探測(cè)器,可以接收直射X射線)

14、智能的測(cè)量分析軟件SmartLab Guidance(專(zhuān)利)

 

主要特點(diǎn)

 

可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域。可以分析的材料包括:金屬材料、無(wú)機(jī)材料、復(fù)合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導(dǎo)材料可以分析的材料狀態(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品

主要的應(yīng)用有:

1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

2. 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小

3. 確定晶系、晶粒大小與畸變

4. Rietveld定量分析

5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度

6. In-Plane裝置可以同時(shí)測(cè)量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)

7. 小角散射與納米材料粒徑分布

8. 微區(qū)樣品的分析