型號:JEM-ARM200F
關(guān)鍵詞:STEM,球差
產(chǎn)地:日本
詳細(xì)內(nèi)容:
儀器介紹:JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡,JEM-ARM200F是一臺具有亞埃分辨率的掃描透射電子顯微鏡,配備有電子束球差校正系統(tǒng)、X-射線能譜儀和電子能量損失譜儀??赏瑫r進行原子分辨率的成像和化學(xué)份分析。
掃描透射模式分辨率:暗場像 0.08 nm 明場像 0.14 nm
透射模式分辨率:點分辨率 0.19 nm 信息分辨率 0.10 nm
放大倍率:掃描透射模式 100 to 150,000,000X 透射模式 50 to 2,000,000X
光斑尺寸:最小直徑0.10nm
樣品要求:塊體樣品,樣品大小為直徑3mm的圓,厚度100nm以下;制樣用微柵或者超薄碳膜;粉末可直接寄樣,包制樣,接受磁性樣品
收費標(biāo)準(zhǔn):3000/小時,含(Fe,Co,Ni)4000/小時,粉末包制樣
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