德國WinsamVarioⅢ超聲波掃描
電子元器件等內(nèi)部缺陷檢查
1、高分辨的X/Y掃描
2、掃描區(qū)域200mm×200mm,300mm×300mm
3、掃描分辨率1um~60mm
4、有 A,B,C,D,G,X 掃描模式
5、最大掃描速度:大約10 秒 / 每幅圖像
6、最小門限寬度和時延:1ns;最小門限位置:2ns;最大門限位置:60?s
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