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電子探針（EMPA）1720是進(jìn)行固態(tài)樣品表面形貌、結(jié)構(gòu)觀察和微區(qū)成分分析測試的常規(guī)分析儀器,具有以下特點：

（1）分析區(qū)域很小，可完成小于1μm3區(qū)域的成分分析；

（2）分析元素范圍廣，可測 Be-U元素；

（3）不破壞樣品；

（4）可進(jìn)行元素線掃描分析和面掃描分析；

（5）應(yīng)用范圍廣，可測試各類固態(tài)樣品；

（6）分析快捷且成本較低。電子探針業(yè)已成為礦物學(xué)、巖石學(xué)、地球化學(xué)、礦床學(xué)、構(gòu)造地質(zhì)學(xué)、比較行星學(xué)和冶金材料科學(xué)等研究領(lǐng)域基礎(chǔ)的原位微束微區(qū)分析儀器。

可以實現(xiàn)礦物、巖石、材料等各類固體樣品的微區(qū)形貌和結(jié)構(gòu)觀察、高精度的微區(qū)無損成分定量分析、高精度的元素線掃描和面掃描分析。

（1）固體物質(zhì)表面微區(qū)元素定性、定量分析；

（2）固體物質(zhì)表面圖像分析如：背散射圖像（BSE）、二次電子圖像（SE）；

（3）固體物質(zhì)表面元素線分析；

（4）固體物質(zhì)表面元素2D面分析；